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近紅外谷物分析儀的基本構(gòu)成

發(fā)布時(shí)間: 2023-03-29 14:21:19

新聞來(lái)源: 黑龍江辰龍科技有限公司

　　近紅外谷物分析儀的基本構(gòu)成
　　谷物近紅外光譜儀擁有先進(jìn)的數(shù)據(jù)檢測(cè)及分析技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的檢驗(yàn)效果，大大提升工作效率，為產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航，助力企業(yè)快速發(fā)展。近幾年近紅外光譜分析技術(shù)正以驚人的速度應(yīng)用于包括農(nóng)牧、食品、化工、制藥等在內(nèi)的許多領(lǐng)域，為科研教學(xué)及生產(chǎn)過(guò)程控制提供一個(gè)十分廣闊的使用空間。
　　谷物近紅外光譜儀基本構(gòu)成：
　　1.光源

　　光源能發(fā)射出穩(wěn)定、高強(qiáng)度、連續(xù)波長(zhǎng)的紅外光，通常使用能斯特(Nernst)燈、碳化硅或涂有稀土化合物的鎳鉻旋狀燈絲。

　　2.干涉儀
　　干涉儀的作用是將復(fù)色光變?yōu)楦缮婀?。谷物近紅外光譜儀中的分束器主要是由溴化鉀材料制成的;近紅外分束器一般以石英和CaF2為材料;遠(yuǎn)紅外分束器一般由Mylar膜和網(wǎng)格固體材料制成。
　　3.檢測(cè)器
　　檢測(cè)器一般分為熱檢測(cè)器和光檢測(cè)器兩大類(lèi)。熱檢測(cè)器是把某些熱電材料的晶體放在兩塊金屬板中，當(dāng)光照射到晶體上時(shí)，晶體表面電荷分布變化，由此可以測(cè)量紅外輻射的功率。熱檢測(cè)器有氘代硫酸三甘肽(DTGS),鉭酸鋰(LiTaO3)等類(lèi)型。光檢測(cè)器是利用材料受光照射后，由于導(dǎo)電性能的變化而產(chǎn)生信號(hào)，常用的光檢測(cè)器有銻化銦、汞鎘碲等類(lèi)型。

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